Tokyo CT Technology Seminar

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[TCTT主催講義] 診断法の有用性評価のための統計解析

【日  時】
平成29年8月23日(水)19時00分〜20時00分

【募集期間】
平成29年7月1日〜7月31日

【場  所】
慶應義塾大学病院 1号館1F カンファレンスルーム
〒160-8582  東京都新宿区信濃町35

【講  師】
富士フイルムRIファーマ株式会社 学術企画部 
高徳 桂三(たかとくけいぞう) 先生
 
【募集人数】
30名

【参加条件】
診療放射線技師の方

【目  的】 
 診断法研究の重要な目的は、検査法の正確さの評価と検査法間の比較です。診断法で重要な進展・改良があった場合、その有用性評価のための統計解析を適切に理解し、実施することは重要です。

 今回は、よくある統計解析の間違い、receiver operating characteristic (ROC) 曲線に関連した指標(AUC、感度、特異度)など、基礎的な診断精度の算出法について理解を深める。また、逐次近似再構成法の登場により、視覚評価の重要性が再認識されており、その中でも画像の良し悪しを決める、一対比較法を学び、放射線領域研究者としての統計リテラシーを高める。

 なお、参加者にはROC曲線 (ノンパラメトリック法) と一対比較法 (中屋の変法) が簡単に解析できるエクセルファイルを無料配布いたします。(高徳 桂三)


【参加料金】
500円

【企画担当】 
慶應義塾大学病院放射線技術室
南島 一也

人数に達したため参加申込みは終了致しました。
ありがとうございました。


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